Даниленко, Н.И.; Подрезов, Ю.Н.; Щиголев, В.В.
(Физика и техника высоких давлений, 2013)
Применение аналитической электронной микроскопии позволяет более точно определить структуру и химический состав межфазных границ. На образцах слоистого композиционного материала Cu−Nb, полученного методом вакуумной прокатки, ...